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表面粗糙度量测仪
奈米表面粗糙度量测仪，是一种用于精确量化物体表面微观粗糙度的精密仪器。它通过非接触式光学方式，获取表面轮廓信息，并通过内置的算法精确获取每一点的高度信息，构建高分辨率的3D图像。广泛应用于精密机械制造、汽车工业、航天航空、电子半导体、科研与材料学、医疗器械等领域。
微奈米切换模式
运动轴独立伺服控制
自主开发嵌入式控制系统
定位精度高，速度快
可客制化移动控制需求
花岗岩平台，高稳定性
设备规格
**设备规格可配合客户需求订制，欢迎来电洽询。**
检查实例
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| 塑料板粗糙度 | 盲孔深度 | 镭射切割道 |
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| 金属膜厚 | IC chip | Bump Height |
专门应用
| · 触控面板 (Touch Panel) | · 镭射加工(Laser processing) |
| · 太阳能板 (Solar Cell) | · 平面液晶显示器（LCD) |
| · 晶圆（Silicon Wafer or Sapphire Wafer） | · 印刷电路板（ HDI PCB ） |
| · 碳化硅 (SiC) | · 精密微机械组件或模具（Micro Mechanical Parts or Mode） |
| · 光盘／硬盘（DVD Disk／Hard Disk） | · 高密度线路IC封装（ IC Package） |
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